當(dāng)前位置:北京冠測(cè)精電儀器設(shè)備有限公司>>粉塵微粒測(cè)試儀器>>全自動(dòng)真密度儀>> ZKZMD-10全自動(dòng)真密度分析
全自動(dòng)真密度分析儀原理
應(yīng)用阿基米德原理—?dú)怏w膨脹置換法,利用小分子直徑的惰性氣體(He)在一定條件下的玻義爾-馬略特定律(PV=nRT),通過(guò)測(cè)定由于樣品測(cè)試腔放入樣品所引起的樣品測(cè)試腔氣體容量的減少來(lái)測(cè)定樣品的真實(shí)體積,從而得到其真密度,真密度=質(zhì)量/真實(shí)體積。
氣體膨脹置換法是以氣體取代液體測(cè)定樣品所排出的體積。此法排除了浸液法對(duì)樣品溶解的可能性,具有不損壞樣品的優(yōu)點(diǎn)。因?yàn)闅怏w能深入樣品中極小的孔隙和表面的不規(guī)則空陷,因此測(cè)出的樣品體積更接近樣品的真實(shí)體積,從而可以用來(lái)計(jì)算樣品的密度,測(cè)試值也更接近樣品的真實(shí)密度。
儀器的測(cè)試系統(tǒng)由樣品測(cè)試腔和基準(zhǔn)腔構(gòu)成。測(cè)定樣品真密度時(shí),儀器自動(dòng)采集基準(zhǔn)腔的壓力P1及體積V1并記錄;將一定未知體積的樣品V樣品放入已知體積V2的樣品測(cè)試腔,向樣品測(cè)試腔注入一定量的氣體并記錄穩(wěn)定后的壓力P2;將樣品測(cè)試腔與基準(zhǔn)腔連通并記錄穩(wěn)定后的壓力P3,根據(jù)平衡穩(wěn)定后的壓力值和相關(guān)已知的體積V1、V2即可計(jì)算出待測(cè)的樣品體積V樣品,再由樣品的質(zhì)量和體積計(jì)算出樣品的真密度。
儀器特點(diǎn)
(1)適應(yīng)塊狀、粒狀、粉狀、液體等不同樣品測(cè)量需要;
(2)自動(dòng)重復(fù)測(cè)量狀態(tài)可進(jìn)行重復(fù)運(yùn)行;
(3)壓力平衡時(shí)間可根據(jù)用戶自行設(shè)定,設(shè)置靈活;
(4)分析運(yùn)行一次的時(shí)間僅幾分鐘;
(5)對(duì)于用戶選擇的循環(huán)次數(shù)和定時(shí)的清洗,樣品準(zhǔn)備/清洗狀態(tài)有脈沖信號(hào)(加壓/減壓);
(6)自帶RS485、RJ45和微型打印機(jī),以便于把數(shù)據(jù)傳到打印機(jī)(TMS型號(hào))或PC上(PNS型號(hào));
(7)有用戶可選的*壓力,可消除分析樣品變形所帶來(lái)的危害;
(8)自動(dòng)打印數(shù)據(jù)報(bào)告(TMS款),包括分析結(jié)果的統(tǒng)計(jì),樣品號(hào)和運(yùn)行條件。
全自動(dòng)真密度分析儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)
(1) 集成式模塊:電磁閥、傳感器、樣品池采用一體化設(shè)計(jì),減少死體積,結(jié)構(gòu)緊湊,密封性好;
(2) 溫場(chǎng)均勻技術(shù):采用無(wú)管路模塊化設(shè)計(jì),環(huán)境溫度與模塊溫度保持平衡,氣體溫場(chǎng)均勻;
(3) 智能算法:壓力智能探測(cè),流量控制穩(wěn)定,*限度減小外界氣瓶壓力波動(dòng)的影響;
(4) 腳本設(shè)計(jì):高級(jí)用戶可根據(jù)測(cè)試需求更改腳本,自行設(shè)計(jì)操作流程;
(5) 打印功能:(TMS版)設(shè)計(jì)了測(cè)試結(jié)果輸出功能,方便用戶結(jié)果存檔與數(shù)據(jù)備份,包括電子數(shù)據(jù)與文檔數(shù)據(jù);
(6) 流程指示:采用C語(yǔ)言開發(fā)的嵌入式軟件,操作流程清晰,數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)詳盡;
(7) 24位采集精度:底層數(shù)據(jù)采集采用24位AD模塊;
(8) 標(biāo)樣分析:可提供PVC、鋁、銅材質(zhì)進(jìn)行密度標(biāo)定;
(9) 科技外觀:外觀結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔流暢,造型新穎時(shí)尚,極富科技感。
應(yīng)用領(lǐng)域
研究和質(zhì)量控制:陶瓷、催化劑、濾材、核燃料、石油化工、土壤、肥料、炭黑、焦炭、纖維、礦物、制藥、化妝品、水泥、粉末食品、干燥劑、粉末金屬、離子交換樹酯、硅膠、氧化鋁、固體泡沫等。
可以用來(lái)剔除不適用的材料或者設(shè)計(jì)。聚合物絕緣子的老化過(guò)程一般不會(huì)同時(shí)造成容易測(cè)量的引起老化的逐漸變化的特征。絕緣子從“性能良好"到“使用壽命結(jié)束"的璽化,經(jīng)常是迅速而沒(méi)有事先預(yù)兆的,并有可能被類似前面提及的鹽霧試驗(yàn)中所得到蝕損深度,或強(qiáng)紫外線所造成的表面開裂觀察到。這種變化的時(shí)間和速度依賴于很多參數(shù),包括絕緣了的材料、設(shè)計(jì)以及絕緣于的運(yùn)行環(huán)境。因此,對(duì)于用這樣的老化試驗(yàn)預(yù)測(cè)絕緣于的真實(shí)壽命,僅當(dāng)?shù)玫皆谙嗤蛳嗨频沫h(huán)境下相同或相似的絕緣子的關(guān)于損傷或降解的數(shù)據(jù)冇效時(shí),才是有訂能的。因此,這些試驗(yàn)的應(yīng)用是為了給出設(shè)計(jì)和材料的特性與比較苛刻而拒嚴(yán)酷的環(huán)境中呈現(xiàn)的應(yīng)力之間關(guān)系的-般信息。重要的是,要注意到通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的“試驗(yàn)結(jié)束"時(shí)的破壞水平在大部分運(yùn)行環(huán)境下是不能接受的。
例如,在相關(guān)試驗(yàn)(9.3.-3,附錄A,附錄B)中"[到3mm的蝕損深度在試驗(yàn)中是可以接受的,但絕緣子運(yùn)行中這不能被接受.,在絕緣*的設(shè)計(jì)壽命中也不希望發(fā)生。進(jìn)一步的信息,見(jiàn)C1GRE技術(shù)手冊(cè)142冊(cè):“聚合物絕緣子的i'|然和人工老化以及污穢試驗(yàn)"。表D.1給出了聚合物絕緣子試驗(yàn)的推薦。第9章中所規(guī)定的設(shè)計(jì)試驗(yàn),目的是檢驗(yàn)制造者所用的制造方法、材料及設(shè)計(jì)的適宜性。由于它們涉及設(shè)計(jì)初和長(zhǎng)期性能的所有主要方面的研究,因此花費(fèi)時(shí)間和費(fèi)用是必須要的。
為了避免不必要的試驗(yàn),a)為了產(chǎn)品的改進(jìn),允許絕緣子的設(shè)計(jì)有一定自由度的變化,每次絕緣子設(shè)計(jì)有較小變化時(shí),并不用重復(fù)所有設(shè)計(jì)試驗(yàn);b)絕緣子可分類,設(shè)計(jì)試驗(yàn)在每一類中有代表性的絕緣子上進(jìn)行。